ISIS sentronics, Anbieter von optischen, kontaktfrei arbeitenden Sensoren für die industrielle Inspektion, stellt auf der CONTROL in Stuttgart erstmals den neuen ‚i-Dex tf’ – das halbautomatische Innenraum-Inspektionssystem – vor, welches seit kurzem auch als ‚Tischversion’ erhältlich ist.
Der kleinere, kompaktere ‚i-Dex tf’ steht in der Funktionsweise dem größeren Stand-Alone Gerät ‚i-Dex f’ in keinster Weise nach. Durch seine Höhe von knapp einem Meter kann er beliebig auf einem Tisch platziert werden. Für die einfache Auswertung der Messergebnisse reicht der Anschluss eines externen Laptops. Lediglich die Bauteilhöhe des Messobjektes ist auf 50 mm begrenzt.
Weitere ‚Tischversionen’ werden ebenfalls erstmalig vorgestellt. Mit dem ‚i-Dex ta’ können 3D Mikro-Topographien und Oberflächenrauheiten bis in den nm-Bereich erfasst werden. Auch dieses steht in der Funktionsweise dem größeren Stand-Alone Gerät ‚i-Dex a’ nicht nach. Lediglich der Objektdurchmesser ist auf maximal 150 mm begrenzt.
Mit dem ‚i-Dex tt’ existiert ein Tischgerät, mit dem Beschichtungen von nicht-metallischen Materialien mit Schichtdicken bis 0.3 µm und nm Präzision auf Bauteilen nahezu aller Art bis 150 mm Ausmaß ermittelt werden.
Kompletsysteme
– Mit dem Komplettsystem ‚i-Dex f’ können Innenräume von Freiform Objekten 3-dimensional erfasst werden. Das Objekt (von außen) wird dazu in eine Vorrichtung eingeklemmt. Die Messungen erfolgen mit dem Sensorkopf RayDex cr mit externer Aktorik. Messparameter sind u.a. Durchmesser, Rundheit, Ovalität, Konizität und Koaxialität. Ebenso lassen sich technische Rauheitswerte bis zu einer minimalen Rauheit Rz = 0.5 µm ermitteln. Durch einen mechanischen 2D-Verfahrtisch von 200 x 200 mm können mehrere Objekte auf einer Palettiereinheit zielgerichtet angesteuert und vermessen werden. Ebenso erlaubt der Verfahrtisch die Kalibrierung des Sensors mit Messnadel durch Vermessung eines Kalibrierkörpers am Rande des Objekt-Messfeldes. Technische Rauheitswerte können bis zu einer minimalen Rauheit Rz = 0.5 µm ermittelt werden.
– Mit dem Komplettsystem ‚i-Dex a’ können 3D Mikrostrukturen und nm Rauheiten erfasst werden. Die 3D Strukturen können dabei über 100 µm hoch sein und in zwei Dimensionen Ausmaße von etwa 0.4 mm2 haben. Durch ‚Stitching’ lassen sich noch größere, zusammenhängende Flächen vermessen. Die maximale laterale Ausdehnung eines Objektes (z.B. eines strukturierten Wafers) liegt bei 300 mm.
– Mit dem Komplettsystem ‚i-Dex p’ können rotationssymmetrische sowie nahezu flache Objekte (z.B. Bremsscheiben) in Bezug auf ihr Oberflächenprofil erfasst werden. Die Objekte drehen sich auf einem luftgelagerten Rotationstisch.
Zur Detektion von oben kommt meist ein StraDex p zum Einsatz. Messparameter sind u.a. Ebenheit und Konizität. Ebenso lassen sich technische Rauheitswerte bis zu einer minimalen Rauheit Rz = 0.5 µm ermitteln.
Die ISIS sentronics GmbH wurde 2006 von dem Geschäftsführer Dr. Alexander Knüttel in Mannheim gegründet. In der ISIS sentronics wird eine optische Sensoren-Technologie basierend auf dem vorhandenen Medizintechnik Know-how im industriellen Bereich angewendet. Zu den Zielgruppen für die RayDex Sensor-Systeme gehören insbesondere die Automobilbranche, der Maschinenbau, die Beschichtungstechnik, die Wafer-/Halbleitertechnik sowie in etwas eingeschränktem Maße die Medizin/Medizintechnik. ISIS sentronics ist derzeit weltweit der einzige Anbieter von Präzisions-Sensoren für kleine bis kleinste 3D Innenraummessungen.
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