Die Kombination macht’s

MarSurf CWM 100 von Mahr kombiniert Konfokale Mikroskopie und Weißlicht-Interferometrie

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Berührungsfreie und dreidimensionale Oberflächenmessungen sind für viele Prüfteile nicht nur wünschenswert, sondern auch zwingend erforderlich. Die topographische Oberflächenmessung sollte wesentliche Forderungen erfüllen: Der Prüfling wird beim Messen nicht beschädigt und die Messung mit flächenhafter Profilerfassung erfolgt innerhalb einiger Sekunden. Zudem muss eine Analyse und Auswertung von zwei- und dreidimensionalen – also flächenbezogenen – Kenngrößen möglich sein.

Optischer Oberflächenmessplatz MarSurf CWM 100

Das optische Oberflächenmessgerät MarSurf CWM 100 von Mahr kombiniert die optischen Messmethoden Konfokale Mikroskopie und Weißlicht-Interferometrie. Diese beiden wichtigen physikalischen Messmethoden sind einzeln nicht an allen Materialien und Oberflächenstrukturen einsetzbar. Ihre Kombination jedoch ermöglicht ein sehr weites Anwendungsspektrum: Das innovative Oberflächenmessgerät erlaubt es, (fast) alle technischen und optischen Oberflächen zuverlässig zu erfassen und hochgenau zu messen.

Dank unterschiedlicher und für die entsprechende Messmethode geeigneter Objektive in einem Objektiv-Revolver wechselt der Nutzer schnell und einfach zwischen verschiedenen Vergrößerungen und Bildfeldgrößen. Ein motorisch angetriebener CNC-gesteuerter X/Y-Tisch verfährt und positioniert den Prüfling automatisch. Dadurch sind auch Analysen größerer Flächen durch Bildzusammenfügungen (Stitching) einfach, schnell und präzise möglich. Die Auswertung der Profile erfolgt über eine leistungsstarke integrierte Software. Weiterhin ist die Auswertung mit der neuen Topographiesoftware MarSurf MfM möglich. In Ergänzung und Weiterführung des Weißlichtinterferometers MarSurf WS 1 geht Mahr mit dem MarSurf CWM 100 einen weiteren großen Schritt bei der berührungslosen Oberflächenmesstechnik.

Kontakt:

www.mahr.de