Freiformobjekte 3-dimensional erfassen

ISIS sentronics präsentiert Multipunkt-Messungen zur automatisierten Qualitätssicherung auf der CONTROL 2012

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ISIS sentronics, Anbieter von optischen, kontaktfrei arbeitenden Sensoren und Systemen für die industrielle Messtechnik, stellt auf der CONTROL 2012 (Halle 3 Stand 3310) das Innenraum-Inspektionssystem ‚i-Dex tf’ mit diversen neuen Features vor.

Mit dem kompakten Tischgerät können Innenräume von Freiformobjekten mit sub-µm Genauigkeit 3-dimensional erfasst werden. Durch die Gesamthöhe von knapp einem Meter kann es beliebig auf einem Tisch platziert werden. Jetzt können damit auch größere Messobjekte problemlos vermessen werden. Das bis zu 80 mm hohe Bauteil wird zur vibrationsfreien Messung auf einer luftgefederten Messplatte befestigt. Die Messungen erfolgen mit dem integrierten Sensorkopf RayDex cr und mit externer Aktorik. Messparameter sind unter anderem Durchmesser, Rundheit, Ovalität, Konizität und Koaxialität. Auch technische Rauheitswerte bis zu einer minimalen Rauheit (Rz = 0.5 µm) lassen sich mit ‚i-Dex tf’ ermitteln.

Durch die von ISIS sentronics entwickelte, anwenderfreundliche Software ‚TopoLine’ können gleich mehrere Objekte auf einer Palettiereinheit zielgerichtet in nur einem Schritt angesteuert und gleichzeitig vermessen werden. Dabei werden automatisch die unterschiedlichen Parameter in nur einem Messdurchgang ersichtlich.

Ebenso liefert die ‚TopoLine’-Software eine intelligente Schnittstelle zu kundenspezifischer Auswerte-Software wie gängigerweise ‚Microsoft-Excel’ oder auch das komplexere ‚PolyWorks’-Programm. Für die schnelle Auswertung der Messergebnisse reicht der Anschluss eines externen Laptops. So sind auch statistische Auswertungen der u.a. oben beschriebenen Parameter möglich. Soll-Ist Vergleiche zu vorgegebenen 3D Daten oder einem 3D Referenzdatensatz lassen sich ebenfalls schnell und intuitiv darstellen sowie auswerten.

Als weiteres Highlight der optischen Messtechnik präsentiert ISIS sentronics den ‚i-Dex ta‘ zur Inspektion von 3D Mikro-Topographien auf planaren und gekrümmten Oberflächen. Eine Besonderheit des Systems ist die Darstellbarkeit von 1D und 2D Rauheiten mit sub-nm Genauigkeit in einem maximal nur drei Sekunden dauernden Messablauf.

Im Mittelpunkt des CONTROL-Auftritts von ISIS sentronics steht auch der SemDex 101 nano, der speziell für Offline-Messungen von ultra dünnen Beschichtungen ab 0.1 µm konzipiert wurde. Das Herzstück des SemDex 101 nano ist der neu entwickelte Sensor StraDex t10.
Die in Deutschland entwickelten und produzierten Messsysteme von ISIS sentronics zur berührungslosen Qualitätssicherung werden in verschiedenen Branchen, wie etwa der Automobil- und Luftfahrzeugindustrie, angewendet.

ISIS auf der CONTROL 2012 in Halle 3, Stand 3310

Kontakt:

www.isis-sentronics.de